Fichier:Nanoscope.jpg
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| Description |
This instrument performs atomic force microscopy to measure surface characteristics and imaging for semiconductor wafers, lithography masks, magnetic media, CDs/DVDs, biomaterials, optics, among a multitude of other samples. (Pictured: Seth Darling, scientist in the Electronic & Magnetic Materials & Devices group.) The Center for Nanoscale Materials at Argonne National Laboratory is a joint partnership between the U.S. Department of Energy (DOE) and the State of Illinois, as part of DOE's Nanoscale Science Research Center program. |
| Date | |
| Source | Scanning probe microscope (Veeco Multimode with NanoScope V Controller) |
| Auteur | Matt Howard |
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| Date et heure | Vignette | Dimensions | Utilisateur | Commentaire | |
|---|---|---|---|---|---|
| actuel | 5 juillet 2009 à 15:02 | | 4 288 × 2 848 (6,6 Mio) | File Upload Bot (Magnus Manske) | {{Information |Description= This instrument performs atomic force microscopy (AFM) to measure surface characteristics and imaging for semiconductor wafers, lithography masks, magnetic media, CDs/DVDs, biomaterials, optics, among a multitude of other samp |
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